Поиск по сайту
Авторизация
Зачем нужна регистрация?
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?
Подписка на рассылку
Для сотрудников ОИПИ
Типовые документы 

просим принять участие в опросезаполнить анкету

Программные средства классификации дефектов топологии, обнаруживаемых в результате автоматического контроля топологических слоев полупроводниковых пластин


Программные средства классификации дефектов топологии, обнаруживаемых в результате автоматического контроля топологических слоев полупроводниковых пластин

Раздел Автоматизация проектирования технических систем
Область применения Работа в составе установки автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин, выпускаемых ОАО «КБТЭМ-ОМО» ГНПО «Планар»
Краткое описание Разработанные программные средства предназначены для классификации дефектов топологии и работают совместно с установками автоматического контроля дефектности пластин ЭМ-6429. Программные средства классификации дефектов работают под управлением операционной системы Windows XP и выше. Программные средства позволяют накапливать информацию о дефектах, классифицировать их, просматривать дефекты на полупроводниковой пластине, работать с дефектными ведомостями. Интерфейс программы прост для освоения, удобен в работе и позволяет работать в едином комплексе с остальным оборудованием контроля производства полупроводниковых пластин. Разработанную программу можно использовать и для других установок автоматического контроля топологического рисунка шаблонов или пластин
Новизна Соответствует лучшим в СНГ образцам
Степень готовности Производится
Форма сотрудничества Продажа в составе установок автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин
Основные эффекты от внедрения Использование программных средств позволяет снизить стоимость процессов проектирования и изготовления интегральных схем, разработки оптико-электронного оборудования для производства интегральных микросхем
Примерная стоимость 100 млн. рублей
Год создания разработки -
Ответственный исполнитель/разработчик Дудкин А.А.
Контакты (ФИО, Email, телефон) Учёный секретарь – Горох Олег Владимирович, тел.: 8 (017) 284-21-76; Ответственный разработчик – Дудкин Александр Арсентьевич, тел.: 8 (017) 284-21-48
Ключевые слова ЭМ-6429, топология, контроль дефектности